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杭州高裕電子科技股份有限公司

產(chǎn)品展示

Product Demonstration

Product Demonstration

產(chǎn)品展示

微波器件高溫壽命老化測試系統(tǒng)

符合標準:

AEC-Q100、MIL-STD-750D、GJB128、JEDEC等試驗標準。

適用范圍:

適用于各種封裝形式的微波功率器件在高溫下的正向壽命試驗。

技術特點:

針對大功率微波器件每顆器件獨立加熱板溫控。

每顆器件獨立的Vd、Vg控制,獨立的Id控制。 

兼容穩(wěn)態(tài)壽命、間歇壽命試驗 。


技術性能

表格 p27.png